顯微熔點測定儀
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X-4、X-5系列顯微熔點測定儀能夠用于觀察有機單晶體、共晶體在受熱條件下的形態變化，進一步測量晶體熔點溫度和三態轉化標準，為工程材料、固體物理學等諸多領域的科研工作提供了有效手段。該類型儀器目前多適用于高分子材料生產單位、化工企業、制藥公司、涂料/香料生產企業。
X-4/X-4A顯微熔點測定儀
X-4系列熔點測定儀在溫度測量部分使用了高穩定和高線性溫度的傳感器，加裝信號放大器、AD電路轉換器、PID智能控制系統，可以清楚地接收到實時溫度，并將相應數據繪制成曲線圖表以供參考。觀察部分使用體視顯微鏡，視場大、工作距離與倍率可調整，立體感強。
X4系列顯微熔點測定儀技術參數：
測溫方式：溫度傳感器，溫度值LED數顯，手動控溫；
測量范圍：室溫~320攝氏度；
測量精度：＜±1度；
工作距離：110mm；
放大倍率：20×—40×；
顯微鏡：兩檔變倍體視鏡；
試樣用量：＜1mg/次；
測量誤差：全量程±1%；
X-5/X-5A顯微熔點測定儀
X-5顯微熔點測定儀使用標準80倍雙目體視顯微鏡，在控溫儀器上能夠雙排顯示設定溫度和被測溫度，PID系統智能調節熱臺溫度，開機時熱量沖擊小、加熱速度塊、制動恒溫。熱臺采用220V/300W鎳鉻絲，使用壽長，還便于后期更換。
X5系列顯微熔點測定儀技術參數：
測溫方式：溫度傳感器，溫度值LED數顯，設定上下限報警，自動控溫
測量范圍：室溫~320°
測量確度：＜±0.5度
工作距離：110mm
放大倍率：20×—40×
顯微鏡：兩檔變倍體視鏡
試樣用量：＜1mg/次
測量誤差：全量程±0.5%
X-4/X-5系列顯微熔點測定儀技術優勢：
該儀器使用毛細管法與玻片法進行測量最佳，在熱臺上有玻片卡槽。在使用過程中顯微熔點儀的溫度是可調的，根據實際使用情況請在操作界面上小心更正。
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放大倍數 |
20X、40X、80X |
工作距離 |
30-100mm |
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物方視場 |
Φ100mm-Φ3mm |
測定量 |
小于0.1mg |
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測定誤差 |
滿量程±0.5% |
測量準確度 |
±1℃-±0.5℃ |
顯微熔點測定儀結構原理：
本儀器顯微鏡、加熱臺為分體結構,通過簡單插入式專用熱傳感器相聯接，裝配簡單,使用方便，顯微鏡用來觀察樣品受熱后的反映變化及熔化的全過程。加熱臺用電熱絲加熱，并帶有專用散熱器,可快速降溫�？捎糜谳d波片法測量，也可用毛細管測量熔點。
顯微熔點測定儀操作方法：
1. 新購儀器，電源接通，開關打到加熱位置，從顯微鏡中觀察熱臺中心光孔是否處于視場中，若左右偏，可左右調節顯微鏡來解決。前后不居中，可以松動熱臺兩旁的兩只螺釘，注意不要那下來，只要松動就可以了，然后前后推動熱臺上下居中即可，鎖緊兩只螺釘。在做推動熱臺時，為了防止熱臺燙傷手指，把波段開關和電位器扳到編號小位置，即逆時針旋到底。
2. 進行升溫速率調整，這可用秒表式手表來調整。再秒表某一值時，記錄下這時的溫度值，然后，秒表轉一圈（一分鐘）時在記錄下溫度值。這樣連續記錄下來，直到你所要求測量的熔點值時，其升溫速率為1℃/分。太快或太慢可通過粗調和微調旋鈕來調節。注意即使粗調和微調旋鈕不動，但隨著溫度的升高，其升溫速率會變慢。
3. 測溫儀的傳感器上，把其插入熱臺孔到底即可，若其位置不對，將影響測量準確度。
4. 要得到準確的熔點值，先用熔點標準物質進行測量標定。求出修正值。（修正值=標準值- 所測熔點值），作為測量時的修正依據。注意：標準樣品的熔點值應和你所要測量的樣品熔點值越接近越好。這時，（樣品的熔點值=該樣品實測值+修正值）。
5. 對待測樣品要進行干燥處理，或放在干燥缸內進行干燥，粉末要進行研細。
6. 當采用載——該玻片測量時，建議該蓋玻片（薄的一塊）放在熱臺上，放上藥粉，再放上載波片測量。
7. 在數字溫度顯示小一位（如8或7之間跳動時）應讀為8.5℃。
8. 在重復測量時，開關處于中間關的狀態，這時加熱停止。自然冷卻到10以下時，放入樣品，開關打到加熱時，即可進行重復測量。
9. 測試完畢，應切斷電源，當熱臺冷卻到室溫時，方可將儀器裝入包箱內。
10.建議你采用1℃/分的升溫速率測量熔點的溫度值，在次使用時記錄下1℃/分的升溫速率時的波段開關和電位器的編號，則以后用此位置就能得到你的所要求的升溫速率。
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